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[单选题]扩散硅压阻片的测压原理是半导体的电阻变化的答案
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扩散硅压阻片的测压原理是半导体的电阻变化率与被测压力()。
单选题
2021-12-25 00:48
A、A、成正比;
B、B、成反比;
C、C、成线性关系;
D、D、成一定的函数关系。
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A
试题解析
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热工仪表检修工
仪表工考试
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利用弹性变形的原理构成的测压仪表有哪些特点?
(仪表输出值与被测参数真值之间的差值,就叫做 ( )
仪表输出变化与引起变化的被测变量变化值之比称为仪表的灵敏限。
引起仪表指示值发生变化的被测参数最小变化量称仪表的()。
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仪表的灵敏性是指被测参数变化反映在测量仪表示值变化的程度。
U形液柱压力计、弹簧管压力表、压力开关和1151型差压变送器四种类型的测压仪表中,可以用来测绝对压力的是().
能引起仪表示值发生变化的被测参数的最小变化量是()。
电压互感器的高压绕组与被测电路(),低压绕组与测量仪表电压线圈并联。
电压互感器的高压绕组与被测电路串联,低压绕组与测量仪表电压线圈串联。
仪表的指示值与被测变量真实值之间的差值称为()。
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